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二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析：SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。カテゴリー:本・雑誌・漫画>>>本>>>語学・辞書・学習参考書
商品の状態:目立った傷や汚れなし","細かな使用感・傷・汚れはあるが、目立たない
配送料の負担:送料込み(出品者負担)
配送の方法:佐川急便/日本郵便
発送元の地域:千葉県
発送までの日数:1~2日で発送
新作モデル 表面分析：SIMS 語学・辞書・学習参考書375

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