C Primer Plus 第6版
Texas Instruments（テキサスインスツルメンツ）\rprogrammable calculator TI-58/58C/59\rプログラムライブラリー　統計編\r解法、操作方法、フローチャート（一部）、コーディング・メモリーマップがのせられています。\r━━目次━━\r１．１変量及び２変量の基本統計量\r２．各種平均\r３．ヒストグラム（１）\r４．ヒストグラム（２）\r５．ｎ項移動平均\r６．指数平滑法\r７．直線回帰\r８．対数回帰\r９．指数回帰\r１０．ベキ曲線回帰\r１１．２次曲線への回帰\r１２．重回帰と重相関係数（従属変数２）\r１３．多項式の回帰（2項回帰モデル）\r１４．修正指数曲線回帰\r１５．偏相関係数と重相関係数（３変量）\r１６．スピアマンの順位相関係数\r１７．分散分析一元配置\r１８．分散分析二元配置\r１９．分散分析二元配置（くり返し有り）\r２０．２N型直交表による分散分析表\r２１．３２型直交表準備計算\r２２．母平均の検定\r２３．平均値の差の検定（ｔ検定）\r２４．対応のある平均値の差の検定（ｔ検定）\r２５．χ２検定（期待値が等しい時及び等しくない時）\r２６．χ２検定２×２分割表\r２７．χ２検定２×K分割表\r２８．χ２検定ｍ×ｎ分割表\r２９．フィッシャーの直接確率計算\r３０．正規分布\r３１．二元正規分布\r３２．対数正規分布\r３３．χ２分布\r３４．ｔ分布\r３５．Ｆ分布\r３６．二項分布\r３７．負の二項分布\r３８．ワイブル分布\r３９．ポアソン分布\r４０．幾何分布\r４１．超幾何分布\r４２．不良率の差の検定\r４３．不良率管理図\r━━━━\r発行所：テキサスインスツルメンツ　アジア　リミテッド\r発行日：１９７９年４月１０日\r定価：３０００円\r\r扉ページに蔵書印が押されており、その上にシールを貼っています。\r経年劣化によるヤケ、シミ、汚れがあります。\r古本であることをご承知おきください

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